相控阵超声探伤（PAUT）是在传统超声基础上发展的先进技术，二者在原理、检测方式、效果上差异明显，核心区别如下：
1. 探头与发声原理不同传统超声波探伤使用单晶片探头，只能发射固定角度、固定聚焦的声束，依靠移动探头实现扫查。相控阵探头由多个独立晶片阵列组成，通过电控延时激励，可动态改变声束角度、焦点深度和扫查范围，无需机械移动即可实现多角度声束覆盖。
2. 扫查方式不同传统超声多为单点、手动扫查，效率低，对复杂部位需频繁更换探头角度。相控阵可实现电子扇形扫查、线性扫查、动态聚焦，一次扫查覆盖更大区域，检测速度更快、连续性更强。
3. 检测精度与缺陷识别不同传统超声依靠 A 扫波形判读，对缺陷定位、定量依赖人员经验，容易漏判误判。相控阵可生成扇形视图、B 扫、C 扫、S 扫等图像，直观显示缺陷位置、形状、走向，对裂纹、未熔合、坡口死角等复杂缺陷检出率更高。
4. 复杂工件适应性不同传统超声在焊缝坡口、异型件、小管径、变截面等结构上检测困难，常存在盲区。相控阵可通过声束偏转优化入射角度，轻松适配复杂几何结构，大幅减少检测盲区。
5. 数据记录与可追溯性不同传统超声多为人工记录，难以完整留存检测过程。相控阵可全程存储图像数据，便于复核、追溯和存档，更符合现代质量管理要求。
6. 适用场景总结传统超声适合简单工件、厚大内部缺陷、低成本快速检测；相控阵更适合焊缝、复杂结构、高可靠性要求、自动化检测场景，精度、效率和可视化程度远优于传统超声。